业界考虑进一步放宽未来 HBM 内存高度限制，混合键合导入恐再延后

IT之家 3 月 8 日消息，HBM 高带宽内存的一大演进趋势是堆叠层数的增加，在目前的 HBM4 世代主流堆叠层数是 12 / 16。JEDEC 在制定 HBM4 规范时已经放宽了一次堆栈高度限制，从 720µm 提升到了 775μm。

而参考韩媒 ZDNET Korea 与 ETNEWS 的报道，面对下一代堆叠可达 20 层的 HBM，行业正在考虑进一步放宽高度限制至 800µm 乃至更多。

如果想在现有的 775μm 内以现有堆叠容纳 20 层 DRAM，则需要对 DRAM 晶圆进行大幅减薄，这会增加晶圆损坏的风险，进一步降低本已足够复杂的 HBM 的良率。

削减整体堆栈厚度的另一个方向是降低两层 DRAM 的间距，而这需要从键合方面着手。已被用于 NAND 闪存的混合（铜）键合可大幅度降低间距，但其技术难度极高的同时也需要大量的设备投资。如果高度限制被放宽，混合键合的导入也将被延后。

ZDNET Korea 还提供了另一个视角：台积电在先进封装领域占据主导地位，对标准的制定也有很大话语权。而台积电推动的 3D 先进封装技术 SoIC 会导致与 HBM 堆栈配套的 XPU 复合体增高，这为 HBM“长高”提供了天然裕量。

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